昭紋的部落格

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Thursday, January 18, 2007

化妝品的故事---推估統計與虛無假設

推論統計的主要目的是在於由樣本資料推估母體資料,作為決策的參考或是制定決策。例如,一飲料廠商想了解所開發的產品甜度是否適中,則可藉由適當的抽樣,抽取代表性的消費者,進行口味測試,並進而推估全市場對甜度接受的情況。推論統計另一個重要的概念是假設的設立。 我們一般按照費雪爾(R.A. Fisher),把假設分為虛無假設(null hypothesis)與對立假設(alternative hypothesis)兩種,且分別以符號Ho及H1表示之。費雪爾建議:將實驗者心目中盼望得到的研究結果當作是對立假設H1 ;而將與對立假設完全相反的結果當作是虛無假設Ho。在兩種假設當中,只有虛無假設是直接受到統計檢定。費雪爾希望藉由統計測驗推翻虛無假設,從而間接的為對立假設的可信性提供支持。 他這種思考法,是基於以下的信念:要證明一個敘述為真是非常困難的,但要否定一個敘述則只需提供一個反例即可‧‧‧‧系統誤差(systematic error) 隨機誤差(random error)。 1. 『系統誤差』: 所謂測量,乃是大家事先公定有一測量 單位(標準),例如 公尺。 然後依據製造出含刻度的測量工具(例如 尺), 將測量工具 和待測物相互比較,而判得 測量值。 如果測量工具本身所顯示的刻度,因為 校正時疏忽,造成不正確。 或因為 環境的因素(例如溫度 壓力等),使得數值產生變化。 或因 人為不正確(或不熟練)操作或 觀測方法錯誤。都是可能產生 系統誤差的來源。 對於某些非 直接測量的物理量,依據某 原理或方法設計出來的實驗。 也有可能因為 實驗時 無法充分滿足 原理所假設的狀況, 或根本設計原理有失誤,而造成系統誤差。(這也是很多人常忽略的) 通常 『系統誤差』會使得所有測量值 都過高或過低的偏差, 偏差量大致相同,不含機率分佈的因素。2. 『隨機誤差』: 實驗的基本方法,往往是希望能 控制變因, 以找出 物理量受 個別變因的影響。因此 總是希望 控制所有影響的變因,一次只讓一種變因變化。 實驗的設計便是盡量能達到上述的目的。 而且為了實驗簡便,往往也忽略對實驗影響較微小的因素。(也比較實際) 但實際操作時,不見得盡如人意。 這些不易控制(有時候無法控制)的小變因, 便會使測量值產生隨機分佈的誤差。 也就是說 有些測量值會過高,有些則會稍低。降低 『系統誤差』的方法,當然只有靠 正確分析誤差來源: 儀器造成的 → 設法改良儀器。 環境造成的 → 設法控制實驗環境。 操作不良的→ 只好 加強訓練自己了喔!

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